Mijn eigen profiel maken
Openbare toegang
Alles bekijken2 artikelen
2 artikelen
beschikbaar
niet beschikbaar
Op basis van financieringsmachtigingen
Medeauteurs
- Frédéric OverneyMETASGeverifieerd e-mailadres voor metas.ch
- Luca CallegaroINRIM - Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaGeverifieerd e-mailadres voor inrim.it
- Stephen RussekNISTGeverifieerd e-mailadres voor nist.gov
- Baumann HenriMetrology InstituteGeverifieerd e-mailadres voor metas.ch
- Jonathan M WilliamsNational Physical LaboratoryGeverifieerd e-mailadres voor npl.co.uk
- Philippe FlückigerDirector of Operations, EPFLGeverifieerd e-mailadres voor epfl.ch
- Michel CalameHead of Laboratory, Empa & Prof. of Nanoscience, University of BaselGeverifieerd e-mailadres voor empa.ch
- Kishan Thodkar2HS AGGeverifieerd e-mailadres voor one-graphene.com
- Christian SchoenenbergerDepartment of Physics and Swiss Nanoscience Institute of University of BaselGeverifieerd e-mailadres voor unibas.ch
- Hansjoerg SchererPhysikalisch-Technische BundesanstaltGeverifieerd e-mailadres voor ptb.de
- Clark HamiltonNISTGeverifieerd e-mailadres voor vmetrix.com
- Mark W. KellerPhysicist, National Institute of Standards and TechnologyGeverifieerd e-mailadres voor nist.gov
- Pierre GournayBureau International des Poids et MesuresGeverifieerd e-mailadres voor bipm.org
- Martina MarzanoResearcher, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM), Torino, ItalyGeverifieerd e-mailadres voor inrim.it
- Stéphane SolveBIPMGeverifieerd e-mailadres voor bipm.org
- Martin ŠíraCzech Metrology InstituteGeverifieerd e-mailadres voor cmi.cz
- Felix Meliformer head of length, nano- and microtechnologyGeverifieerd e-mailadres voor metas.ch
- Rudolf ThalmannHead of sector, Federal Institute of Metrology METASGeverifieerd e-mailadres voor metas.ch
- Alain KüngSwiss Federal Institute of Metrology METASGeverifieerd e-mailadres voor metas.ch
- Nicolas WyrschEcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Geverifieerd e-mailadres voor epfl.ch